手動晶圓級探針臺系統TS200-SE Probe System返回列表
MPI TS200-ShielDEnvironment™(TS200-SE)8英寸探針臺可提供高級EMI RFI 不透光屏蔽，超低噪聲，低泄漏測量功能。適用于多種晶
MPI TS200-ShielDEnvironment™(TS200-SE)8英寸探針臺可提供高級EMI / RFI /不透光屏蔽，超低噪聲，低泄漏測量功能。
適用于多種晶圓量測應用
• 如組件特性描述和建模、射頻和毫米波、晶圓級可靠性 (WLR) 和失效分析 (FA)
MPI ShielDEnvironment™ 屏蔽環境
• 專為 EMI / RFI / Light-Tight 屏蔽所設計的精密量測環境
• 支援飛安級低漏電量量測
• 溫度量測范圍 -60 °C 至 300 °C
TS200-SE Probe System細節優勢
MPI TS200-SE手動探針測試系統具有無與倫比的功能。具有高度可重復性(1µm)的壓板提升設計，具有用于安全，接觸，分離(300µm)和加載(3mm)的三個離散位置。這些功能可防止意外的探針或晶圓損壞，同時提供直觀的控制，準確的觸點定位和安全設置。附加的Probe Hover Control™具有懸停高度(50、100或150 µm)，可輕松方便地將探頭與Chuck對齊。
