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新聞活動

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手動晶圓級探針臺系統（微屏蔽）TS200-SE的詳細介紹返回列表

2021-01-24 英鉑科學儀器（上海）有限公司

TS200-SE Probe SystemMPI TS200-ShielDEnvironment™(TS200-SE)8英寸探針臺可提供高級EMI RFI 不透光屏蔽，超低噪聲，低泄

TS200-SE Probe System

MPI TS200-ShielDEnvironment™(TS200-SE)8英寸探針臺可提供高級EMI / RFI /不透光屏蔽，超低噪聲，低泄漏測量功能。

適用于多種晶圓量測應用，

• 如組件特性描述和建模、射頻和毫米波、晶圓級可靠性 (WLR) 和失效分析 (FA)

MPI ShielDEnvironment™ 屏蔽環境

• 專為 EMI / RFI / Light-Tight 屏蔽所設計的精密量測環境

• 支援飛安級低漏電量量測

• 溫度量測范圍 -60 °C 至 300 °C

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