Hanwa HED-S5000R全自動HBM/MM/Latch-up測試機(256pin)
Hanwa HED-W5000M晶圓級HBM/MM/HMM測試儀
Hanwa HED-T5000高性能TLP
Hanwa HED-C5000R全自動CDM測試儀
Hanwa-HED-G5000全自動HBM/MM/Latch-up測試機
Hanwa HCE-5000小型便攜ESD測試儀
HPPI TLP
開循環極低溫探針臺 閉循環極低溫探針臺 閉循環磁場探針臺 低溫磁場探針臺 ICE低溫恒溫器 磁場產品
MPI手動全系列直流射頻晶圓級探針臺 MPI半自動全系列直流射頻晶圓級探針臺 MPI全自動全系列直流射頻晶圓級探針臺 MPI高功率全系列直流射頻晶圓級探針臺 MPI全自動分選機 MPI 測試系統選件 MPI全系列測試耗材 MPI全系列Celadon探卡
酸/激光開封機 臺階儀 熱流儀 Vcsel光電測試系統 OKMETIC先進硅基襯底
R&S 羅德斯瓦茨 測試儀表 振動樣品磁強計 VSM Farran毫米波系統
PCB手動探針臺 PCB半自動探針臺 PCB全自動探針臺
英鉑實驗室測試中心現有測試類型:直流測試、射頻測試、
高壓大電流測試、光電測試、極低溫磁場測試、ESD/TLP測試、PCB板級測試等

FCB探頭卡是成熟的探頭卡技術,其目的是實現半導體船舶制造上市時間(TTM)和測試成本(COT)需求。
FCB是一種解決方案,適用于早期的各種半導體生產測試,工程試驗運行到大批量制造(HVM)。FCB適用于需要高信號完整性探測(Sl)或電源設備的完整性探測(PI)。
1、技術成熟
2、很好的滿足測試需求
應用包括尖端SiPs/SOC、WLP、圖形處理器、微處理器、工業微控制器等。
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