<strike id="jbrjp"><dl id="jbrjp"><del id="jbrjp"></del></dl></strike>
<ruby id="jbrjp"><dl id="jbrjp"><del id="jbrjp"></del></dl></ruby><strike id="jbrjp"><i id="jbrjp"><del id="jbrjp"></del></i></strike>
<strike id="jbrjp"></strike>
<strike id="jbrjp"></strike>
<strike id="jbrjp"></strike>
<span id="jbrjp"><dl id="jbrjp"></dl></span>
<strike id="jbrjp"><dl id="jbrjp"><del id="jbrjp"></del></dl></strike>
<strike id="jbrjp"><i id="jbrjp"><del id="jbrjp"></del></i></strike>
<span id="jbrjp"></span><span id="jbrjp"><dl id="jbrjp"></dl></span>
<span id="jbrjp"><video id="jbrjp"></video></span><strike id="jbrjp"></strike>
<strike id="jbrjp"><dl id="jbrjp"><del id="jbrjp"></del></dl></strike>
<strike id="jbrjp"><i id="jbrjp"><del id="jbrjp"></del></i></strike><strike id="jbrjp"><dl id="jbrjp"><del id="jbrjp"></del></dl></strike>
<span id="jbrjp"></span>
<th id="jbrjp"><video id="jbrjp"><strike id="jbrjp"></strike></video></th><span id="jbrjp"><video id="jbrjp"></video></span>
<span id="jbrjp"></span>
新聞活動

真空探針臺品牌/真空探針臺測FET/真空探針臺上海返回列表

低溫真空探針臺是一款為晶片、器件和材料(薄膜、納米、石墨烯、電子材料、超導材料、鐵電材料等)提供真空和低溫測試條件下進行非破壞性的電學表征和測量平臺。CPS系列低溫真空探針臺可

低溫真空探針臺是一款為晶片、器件和材料(薄膜、納米、石墨烯、電子材料、超導材料、鐵電材料等)提供真空和低溫測試條件下進行非破壞性的電學表征和測量平臺。CPS系列低溫真空探針臺可以對材料或器件進行電學特性測量、光電特性測量、參數測量、高阻測量、DC測量、RF測量和微波特性測量,廣泛應用于半導體工業(芯片、晶圓片、封裝器件)、MEMS、超導、電子學、物理學和材料學等領域。

為了提高系統的實用性,系統還可以提供3.2K的溫度擴展選件、振動隔離裝置、LN2杜瓦、高放大倍數的顯微鏡、分子泵機組、熱輻射屏的溫度控制裝置、探針臂的光纖電纜、光學樣品架等選件。

點擊查看更多真空探針臺產品

国产成人一区二区三区影院