Hanwa HED-S5000R全自動HBM/MM/Latch-up測試機(256pin)
Hanwa HED-W5000M晶圓級HBM/MM/HMM測試儀
Hanwa HED-T5000高性能TLP
Hanwa HED-C5000R全自動CDM測試儀
Hanwa-HED-G5000全自動HBM/MM/Latch-up測試機
Hanwa HCE-5000小型便攜ESD測試儀
HPPI TLP
開循環極低溫探針臺 閉循環極低溫探針臺 閉循環磁場探針臺 低溫磁場探針臺 ICE低溫恒溫器 磁場產品
MPI手動全系列直流射頻晶圓級探針臺 MPI半自動全系列直流射頻晶圓級探針臺 MPI全自動全系列直流射頻晶圓級探針臺 MPI高功率全系列直流射頻晶圓級探針臺 MPI全自動分選機 MPI 測試系統選件 MPI全系列測試耗材 MPI全系列Celadon探卡
酸/激光開封機 臺階儀 熱流儀 Vcsel光電測試系統 OKMETIC先進硅基襯底
R&S 羅德斯瓦茨 測試儀表 振動樣品磁強計 VSM Farran毫米波系統
PCB手動探針臺 PCB半自動探針臺 PCB全自動探針臺
英鉑實驗室測試中心現有測試類型:直流測試、射頻測試、
高壓大電流測試、光電測試、極低溫磁場測試、ESD/TLP測試、PCB板級測試等

全自動半導體參數分析儀系列
S530 參數化測試系統 適用于必須操作各種設備和技術的生產和實驗室環境,提供業界出色的測試計劃靈活性、自動化、探頭測試臺集成以及測試數據管理功能。吉時利擁有超過 30 年的專業經驗,針對這些測試解決方案的設計向全世界的客戶提供各種標準和自定義參數化測試儀。

S3500 Probe SystemTS3500和TS3500-SE 在功能上與MPI著名的已建立的 TS3000 和 TS3000-SE 300毫米探針臺具有相同的功能,并通過配置 ...
TS150-HP & TS200-HPMPI大功率器件表征系統是專門為晶圓上大功率器件測試而設計的。MPI TS150-HP和TS200-HP探針系統提供了完整的150mm和 ...
TS2000-DP Probe SystemTS2000-DP是MPI提供一套多功能且經濟高效的8寸半自動高功率測試探針臺,可在20°C至300°C的溫度范圍內進行 ...
TS300-SE Probe SystemMPI TS300-ShielDEnvironment™(TS300-SE)12英寸探針臺旨在對300mm晶圓及以下微小器件提供高級EMI RFI ...
TS150&TS200&TS300TS150&TS200&TS300應用于測試半導體晶圓級、器件類電學特性,具備可以快速拖動樣品臺,更換樣品功能,并且有著獨特Platen ...
上海市松江區廣富林東路199號啟迪漕河涇三期13幢2層
上海市高新技術企業,上海市“專精特新”企業
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