MPI 手動晶圓級探針臺系統（微屏蔽）TS300-SE/TS200-SE返回列表
MPI 手動晶圓級探針臺系統(微屏蔽)完善的半導體領域、微納米實驗室測試方案集成商TS300-SE Probe SystemMPI TS300-ShielDEnvironment&t
MPI 手動晶圓級探針臺系統(微屏蔽)
完善的半導體領域、微納米實驗室測試方案集成商
MPI TS300-ShielDEnvironment™(TS300-SE)12英寸探針臺旨在對300mm晶圓及以下微小器件提供高級EMI / RFI /不透光屏蔽，超低噪聲，低泄漏測量功能環境。 它以較佳高度與防震臺結合在一起，使日常操作非常方便。
適用于多種晶圓量測應用
• ，如組件特性描述和建模、射頻和毫米波、晶圓級可靠性 (WLR) 和失效分析 (FA)
MPI ShielDEnvironment™ 屏蔽環境
• 專為 EMI / RFI / Light-Tight 屏蔽所設計的精密量測環境
• 支援飛安級低漏電量量測
• 內置防震系統
MPI TS200-ShielDEnvironment™(TS200-SE)8英寸探針臺可提供高級EMI / RFI /不透光屏蔽，超低噪聲，低泄漏測量功能。
適用于多種晶圓量測應用，
• 如組件特性描述和建模、射頻和毫米波、晶圓級可靠性 (WLR) 和失效分析 (FA)
MPI ShielDEnvironment™ 屏蔽環境
• 專為 EMI / RFI / Light-Tight 屏蔽所設計的精密量測環境
• 支援飛安級低漏電量量測
• 溫度量測范圍 -60 °C 至 300 °C
